簡單介紹：高低溫沖擊試驗(yàn)箱，適用于電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料等行業(yè)測試。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，下部為低溫區(qū)，上部為高溫區(qū)，試件放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風(fēng)門　　關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。如有需還可以與環(huán)境溫度連通，形成三箱法試驗(yàn)。

簡單介紹：高低溫沖擊試驗(yàn)箱，適用于電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料等行業(yè)測試。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，下部為低溫區(qū)，上部為高溫區(qū)，試件放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風(fēng)門　　關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。如有需還可以與環(huán)境溫度連通，形成三箱法試驗(yàn)。

簡單介紹：高低溫沖擊試驗(yàn)箱，適用于電子零部件、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬材料等行業(yè)測試。
高低溫沖擊試驗(yàn)箱，下部為低溫區(qū)，上部為高溫區(qū)，試件放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時上風(fēng)門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風(fēng)門　　關(guān)閉，下風(fēng)門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。如有需還可以與環(huán)境溫度連通，形成三箱法試驗(yàn)。

簡單介紹：該沖擊試驗(yàn)箱為待測品靜置，制冷、熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零部件測試、半導(dǎo)體、電子線路板、金屬化學(xué)材料等試驗(yàn)設(shè)備。試驗(yàn)箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測品）放置在試驗(yàn)箱中部，高溫沖擊時，上風(fēng)門打開，下風(fēng)門關(guān)閉，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，下風(fēng)門打開，上風(fēng)門關(guān)閉，形成低溫內(nèi)循環(huán)。如果有需要，還可以與環(huán)境溫度連通（通過后風(fēng)門打開來實(shí)現(xiàn)）形成三箱法試驗(yàn)。